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方块电阻测试仪

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产品名称: 方块电阻测试仪
产品型号: JZ-ST21L型
产品展商: 九州牌
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简单介绍

方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。 方块电阻测试仪以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精


方块电阻测试仪  的详细介绍
方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
    方块电阻测试仪以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。

◆ 特点
 
1
 方块电阻测试仪采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗;
2
 以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;
3
 采用单个电池供电,带电池欠压指示;
4
 体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;
5
 特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
6
 探头带抗静电模块
 
◆ 技术指标:
 
测量范围
 按方块电阻量值大小分为二个量程档:
  1.方块电阻 1.000~19.999Ω/□;
  2.方块电阻 10.00~199.99Ω/□;
 *小分辨率:0.001Ω/□
恒流源
 测量过程误差:≤±0.8%
模数转换器
 量程:0~199.99mv;
 分辨率:10μv;
 方式:LCD大屏幕显示;极性,超量程均自动显示;小数点同步显示;
测量不确定度
 在整个量程范围内,测量不确定度≤5%
四探针探头规格
 间距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ
电源
 使用一节450mAH的锂电池
 
◆ JZ-ST21L方块电阻测试仪可选配HP系列四探针探头的型号及规格
型号
(Model)
曲率半径
(Radius)
压力
(loads)
探针间距
(spacing)
探针排列
(Arrangement)
HP501
0.5mm
100g
3.8mm
直线
HP502
0.75mm
100g
3.8mm
直线
HP503
0.1mm
150g
1mm
直线
HP504
0.5mm
100g
1.59mm
直线
 
◆ ST-21L方块电阻测试仪可选配SP-601型方型四探针探头的型号及规格
型号
(Model)
曲率半径
(Radius)
压力
(loads)
探针间距
(spacing)
探针排列
(Arrangement)
SP601
0.5mm
100g
1.59mm
方形
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